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Tektronix數位取樣示波器-DSA8300

Tektronix數位取樣示波器-DSA8300
Tektronix數位取樣示波器-DSA8300

最優秀的訊號完整性，適合困難的高速特性分析測試
DSA8300 系列擁有領先業界低於 100 飛秒的固有抖動，具極準確的裝置特性，能提供光通訊標準、時域反射和 S 參數的全面性支援。 DSA8300 數位取樣示波器是一個完整的高速實體層測試平臺，其資料通訊速度從 155Mb/秒到 100G

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  • 特色
  • 規格
  • 下載
功能
優點
電氣模組訊號量測準確度：
• 超低系統抖動 (<100 fs，典型值)
• > 70GHz
<100 fs 固有抖動能夠分析高位元率裝置 (40 和 100 (4'25) Gb/秒) 的特性，透過測試儀通常會消耗 5% 以下的訊號單位間隔時間。70 GHz 的頻寬可以充分分析高位元率訊號 (第 5 諧波資料傳輸率為 28 Gb/秒，第 3 諧波的資料傳輸率 >45 Gb/秒)。
在所有頻寬中具有業界最低系統雜訊：
• 600 µV 以下 (典型值 450 µV)@ 60 GHz
• 380 µV 以下 (典型值 280 µV)@ 30 GHz
擷取高位元率時具有最少的儀器雜訊，低振幅訊號本身可顯示為其他的抖動和眼圖閉合，可消除額外的雜訊。
可使用一台主機多達 6 個通道，在<100 fs 的抖動下同時進行擷取。多個差動通道的高完整性功能，能完成跨通道損壞的測試，並提高多個高速串列通道系統的測試輸送量。
光學模組支援 155 Gb/秒 和 100 Gb/秒 (4x25) 乙太網路的所有標準速率光學相容性測試。為單模和多模光學標準提供符合成本效益的多用途光學測試系統，範圍自 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s (SONET/SDH 及 40GBase 乙太網路) 和 100 Gb/s 乙太網路 (100GBase-SR4、LR4 及 ER4)，波長 850、1310 和 1550nm。
高達 300 kS/秒最大取樣率的優越擷取輸送量。具 4X 優越系統輸送量，縮短製造或裝置特性分析的測試時間。
能夠將取樣器放到待測裝置 (DUT) 附近。遠端取樣探棒頭可將待測裝置和儀器佈線和夾具間所造成的訊號衰減降至最低，簡化了測試系統的去嵌入作業。
獨立校驗過的通道偏移校正功能。具有雙通道模組整合的已校驗過通道的偏移校正，透過消除多通道量測偏移，能增強訊號的完整性。


光接口模塊

  • 全面集成光模塊，支持155 Mb/s ~ 100 Gb/s的光數據速率

  • 經過認證的光接口參考接收機，支持標準規定必須進行的一致性測試指定的要求

  • 光帶寬>80 GHz

  • 光接口採樣模塊提供了高光學靈敏度、低噪聲及寬動態範圍，可以準確地測試和檢定短程到遠程光接口通信標準

  • 經過全面校準的時鐘恢復解決方案– 不需要手動校準數據撿拾損耗

  • 對採用這種出廠校準選項的模塊，經過校準的消光比測量確保消光比測量在系統間的可重複性<0.5 dB


電接口模塊

  • 超低噪聲電採樣器（20GHz時280 μV, 60GHz時450 μV, 典型值）

  • 可以選擇帶寬1允許用戶用採樣器帶寬和噪聲換取最優的數據採集性能

  • 遠程採樣器2或緊湊的採樣擴展模塊電纜，採樣器可以放在被測器件附近，使信號劣化達到最小

  • 高性能集成TDR （10 ps典型步進上升時間）支持傑出的阻抗不連續性檢定，對50 GHz的S參數測量提供了高動態範圍


分析

  • 為NRZ、RZ 和脈衝信號類型提供了一套完整的超過120 種自動測量功能

  • 自動模板測試，支持80多種行業標準模板。新模板可以導入DSA8300，支持各種新興標準。用戶可以定義自己的模板，自動進行模板測試

  • 垂直和水平直方圖，進行波形統計分析

  • 垂直光標、水平光標和波形光標（及測量）

  • 抖動、噪聲、BER、模板測試和串行數據鏈路分析（SDLA）通過80SJNB Essentials和Advanced應用軟件選項提供

  • 高級TDR分析、S參數測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能通過IConnect®應用軟件選項提供


高測試吞吐量

  • 每條通道高達 300 kS/s 的採樣採集速率

  • 高效編程接口（IEEE-488、以太網或本地處理器接入）實現高測試吞吐量


型號類比頻寬取樣率記錄長度類比通道
DSA8300DC - 80 GHz最高至 300 kS/秒50 點 - 16,000 點 (IConnect® 1M 點，80SJNB 10M 點)由使用的取樣模組決定，最多 8 個


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